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1主要参数 SEM分辨率Resolution: 1.0nm @ 15kV 1.9nm @ 1kV 放大倍数Mag.:12 ~ 1000,000x 加速电压EHT:0.1 ~ 30kV FIB分辨率Resolution: 2.5nm @ 30kV 放大倍数Mag.:300×~ 500,000× 加速电压EHT:1.0 ~ 30Kv 主要功能 1. 场发射扫描电镜(SEM):各种材料形貌观察和分析,如金属、半导体、陶瓷、高分子材料、有机聚合物等; 2.X射线能谱分析仪(EDS):材料微区成分分析;MnKa峰的半高宽优于127eV;CKa峰的版高宽优于56Ev;FKa峰的半高宽优于64eV;元素Be4-U92; 3.3D背散射电子取向成像系统
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0https://www.zhaowoce.com/activity/peculiarity.html
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