哪里可以测试镀层厚度及镀层成分检测
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镀层厚度测试：光学显微镜
镀层厚度测试：SEM测量
镀层厚度测试：X-射线法
GB/T 6462-2005ASTM B487-85(2007)ISO 1463-2003EN ISO 1463-2004BS EN ISO 1463-2004JIS H 8501-1999AS 1231-2000
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GB/T 16921-2005ASTM B568-98(2004)ISO 3497-2000DIN EN ISO 3497-2001JIS H 8501-1999JIS K 0119-2008
a.可测Zn,Cu,Ni,Cr,Au,Ag,Sn,Pd最多三层,总厚不超过30μm,要求客户说明基材及镀层的材质 b.四种准直器：Ø0.305mm，Ø0.152mm,0.051x0.254mm,0.051X0.051mm c.标片厚度：Zn(14.5,18.8),Ag(0.21,0.93),Cr(0.53),Ni(2.13,4.95,
Au需要客户提供金层密度或者纯度；测试结果受测试层密度影响很大，例如18K金的金层，按照24K金去测试，结果相差非常大；基材含有铝的情况务必非常小心，铝元素对X-ray的干扰比较大，最好先让客户送样过来试做之后再决定