霍尔效应测试仪是用于测量半导体材料的多个重要参数的关键工具。具体来说，它可以测量以下参数：霍尔迁移率、载流子类型、载流子浓度、霍尔系数、电阻率。
科学指南针提供多种型号的霍尔效应测试仪，如HMS-7000、HMS-5000等，这些设备均具备高精度、高性能和易操作的特点。它们可以应用于各种半导体材料的测试，包括Si、ZnO、SiGe、SiC、GaAs、InGaAs、InP、GaN等。此外，科学指南针还提供了详细的样品要求和预约服务，确保用户能够准确、高效地利用霍尔效应测试仪进行材料测试。